商特仪器为半导体企业提供高精度检测仪器。

•晶圆加工过程中提供如拉曼光谱仪，在线高速分光干涉膜厚仪、表面轮廓测量系统等，实现生产过程中对晶圆厚度、平坦度、膜厚、杂质的实时把控。

•针对抛光液、光刻胶、光掩膜等半导体功能材料进行理化分析的相关仪器，如纳米粒度分析仪、激光粒度仪、光刻胶测量装置。

•在生产流程的清洁环境验证方面，提供有如空气粒子计数器、沉降粒子监控设备、风速风温温湿度、噪音计、振动计，满足生产环境所需的污染控制与人员工作条件。

•水质检测，有TOC分析仪、液体颗粒计数器等仪器设备，满足高精密制造的生产条件实时监控。

•芯片封装测试阶段，商特提供可靠性测试与分析设备，如红外光谱仪、各类显微镜、CT扫描装置、偏压测试系统、可焊性测试、恒温恒湿试验箱等等。