日立 X荧光光谱仪EA1280

EA1280是日立专为RoHS有害物质限制设计的XRF分析仪,15年来一直受到信任,为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量,您可以确保能够满足环境法规的要求。

日立 X荧光光谱仪EA1280
  • 日立 X荧光光谱仪EA1280
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*产品型录所记载的设计、规格、参数可能有不定期变动,详情请咨询销售人员。
  • 产品详情
  • 规格参数
  • EA1280是日立专为RoHS有害物质限制设计的XRF分析仪,15年来一直受到信任,为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量,您可以确保能够满足环境法规的要求。

    优势

    • 操作方便

    • 可自动采样

    • 灵活校准以适应新的RoHS标准

    • 自动突出显示您正在分析的内容以获得可浏览的结果

    • 快速测量

    • 大样品舱满足各种样品

    • 视听测量指示器

    • 添加镀层和元素分析的选项


    EA1280是日立专为RoHS有害物质限制设计的XRF分析仪,15年来一直受到信任,为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量,您可以确保能够满足环境法规的要求。

    优势

    • 操作方便

    • 可自动采样

    • 灵活校准以适应新的RoHS标准

    • 自动突出显示您正在分析的内容以获得可浏览的结果

    • 快速测量

    • 大样品舱满足各种样品

    • 视听测量指示器

    • 添加镀层和元素分析的选项


  • 产品参数

    EA1280
    • 主要功能:适用于RoHS筛查和通用分析的高性能多用途XRF光谱仪

    • 应用领域:・快速RoHS/ELV合规性筛查・无卤素合规性筛查・薄膜分析・快速材料识别・多用途材料分析

    • RoHS拓展元素:Sb、Sn、Cl(*较以往机型检测性能增强)

    • 测量范围:13Al~ 92U

    • 测量大气:空气

    • 样品测量:单一位置或12位置转盘

    • 测量光斑尺寸:5 mm Ø准直器(标准);1和3 mm Ø(可选;程控)

    • 常规RoHS筛查时间:塑料<35秒,黄铜<170秒

    • 样品观察:彩色CCD相机

    • 检测器:高性能SDD

    • 样品舱尺寸:304(宽)×304(深)×110(高)mm

    • 用途XRF光谱仪

    • 应用领域:・快速RoHS/ELV合规性筛查・无卤素合规性筛查・薄膜分析