大塚电子
作为世界500强企业之一的大冢集团，其旗下日本大塚电子集团的子公司大塚电子以“多样性”、“创新性”和“全球化”作为基本方针，并融合了自公司成立以来积累的核心技术，为用于光学特性测试的测量仪器、分析仪器提供从销售到售后的全面服务支持，包括偏光片测试仪、位相差测试仪、液晶Cellgap测试仪、ColorFilter色度机、膜厚测试仪、透过率测试仪、反射率测试仪、等，可以满足纳米技术、高分子化学、新材料、食品、半导体和医药等诸多领域从研发到质量管理各方面的需求，拥有精度高、测试快、操作简便、市场占有率高、客户群体广的特点及优势。
01、显微分光 OPTM series
产品介绍：
非接触、非破坏式，量测头可自由集成在客户系统内
初学者也能轻松解析建模的初学者解析模式
高精度、高再现性量测紫外到近红外波段内的绝对反射率，可分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率、k：消光系数）
单点对焦加量测在1秒内完成
显微分光下广范围的光学系统（紫外 ~ 近红外）
独立测试头对应各种inline定制化需求
最小对应spot约3μm
独家专利可针对超薄膜解析nk
02、光波动场三次元显微镜 MINUK
产品介绍：
MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。
且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
通过一次拍照即可获取深度方向的信息，可以将透明薄膜表面上肉眼不可见的划痕和缺陷的横截面形状数值化实现可视化。
